| 粒子の技術の実験室は品質の粒度および性格描写に専用されている首位サービス実験室です。 私達のサービスは含んでいますが、限定されません: • 粒度 • 表面積/気孔のサイズ • イメージ分析 • Photomicroscopy • 粉のレオロジー • ゼータの潜在性 • 密度 • 物理的な測定 粒度の 分析 PTL に各サンプルが最も適切な技術を使用して分析されることを保障するべき粒度の器械使用の広い範囲があります。 微粒子はまた複数のナノメーターから粒子の集中を定める潜在性の複数のミリメートルへの測定することができます。 レーザーの回折 ボリューム基礎のぬれたか乾燥した中断を使用して液体または粉の手段の粒度。 使用できるレーザーの回折の器械使用 PTL に使用できる次のレーザーの回折装置があります: • Malvern Mastersizer S • Malvern Mastersizer 2000 年 • Beckman の犂刃 LS13 320 • Microtrac X-100 Electrozone 犂刃カウンターの技術/電気感知のゾーンは電解物の中断の液体そして粉を分析します。 ボリューム、番号および粒子の集中の基礎の統計分析。 使用できる Electrozone の器械使用 PTL に使用できる次の electrozone 装置があります: • Elzone Photozone/ライト不明瞭化 単一の粒子の光学感知の器械。 カウントおよびサイズ各々の個々の粒子。 ボリューム、番号および集中情報を得ることができます。 Photozone/使用できるライト不明瞭化の器械使用 PTL に使用できる次の photozone/ライト不明瞭化装置があります: • AccuSizer モデル 770 • Hiac/Royco モデル 8000A 光子の相関関係 強度の基礎で測定される nano サイズの粒子の粒度。 使用できる光子の相関関係の器械使用 PTL に使用できる次の光子の相関関係装置があります: • Nano Malvern Zetasizer • Microtrac UPA 150 • Nicomp 380/ZLS 粒子の 形および粒径分析 番号、ボリューム、球形やアスペクトレシオを含むサイズ/形による分布の分析 使用できる 粒子の形および粒径分析の器械使用 PTL に使用できる次の粒子の形および粒径分析装置があります: • Beckman の犂刃 RapidVue • Malvern PharmaVision ふるい分析 ふるいのスタックを通ることによって重量の基礎の乾燥した粉の粒度を測定します。 通常のために大きい材料 >45 ミクロン (USP<786>) 使用できるふるいの器械使用 PTL に使用できる次のふるい分析装置があります: • ATM 音波のふるい • 高山の空気ジェット機のふるい • 200 として Retsch、 Cenco の Humbolt のふるいのシェーカー X 線の沈降 沈降のレートに基づいて液体および粉の粒度を測定します。 使用できる X 線の沈降の器械使用 PTL に使用できる次の沈降装置があります: • Sedigraph の型 1500 空気 空気基礎の測定の乾燥した粉。 使用できる空気器械使用 PTL に使用できる次の空気装置があります: • TSI Aerosizer LD 8050 • BAHCO |