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背景
从牛津仪器的分析仪器
X 地层 980 X-射线荧光分析程序
CMI900 XRF 分析程序
涂层Β测厚计
背景
牛津仪器设计，供应并且支持高技术工具、进程和解决方法与一个重点在物理学、生物科学、环境和产业研究和应用。 创新是在牛津仪器增长和成功后的驱动力 40 年，并且其方法是影响这些想法的成功的商品化通过带来他们销售一个及时和客户集中的方式。
从牛津大学将消磨的第一技术商业在四十年期间前，牛津仪器现在是与 1,300 人员全世界和一个列表的一家全球公司在伦敦证券交易所 (OXIG)。 我们的目的将是新一代工具和系统主导的提供者物理学和生物科学部门的。
这在区介入核心技术的组合例如低温，并且高磁场环境，核磁反应， X射线辐射电子和光学基于计量学和先进的增长、证言和蚀刻。 我们的产品、专门技术和想法论及全球问题例如能源、环境、恐怖主义和健康并且是电信的下一代的一部分，能源产品、环境措施、安全设备、药物发现和医疗预付款。
从牛津仪器的分析仪器
牛津仪器为涂层厚度和材料构成的评定提供大范围分析仪器。 并且电子制造工业的专用的产品解决方法，我们的优越手段保证 RoHS 标准审查的线索出现的质量测量，测试和高可靠性电子。
我们平衡科学、技术和对我们的客户的了解’需要提供准确评定解决方法： 除长凳顶层 XRF 涂层厚度评定仪器之外，我们提供大范围β测厚计应用的手持式电导率，磁性和涡流测量仪。
X 地层 980 X-射线荧光分析程序
X-Strata980 是结合一台威力强大的 X光射线管和高分辨率探测器评定复杂范例小范围和提供检测极限在单数位 ppms 的 X-射线荧光分析程序。
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CMI900 XRF 分析程序
CMI900 是涂层厚度和材料构成的评定的一个 XRF 分析程序。 此快速和准确的分析程序可能评定镀层的厚度和构成，涂层，薄膜，从钛的包含元素通过 U。
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涂层Β测厚计
我们开发与证明混和最尖端的科学评定技术的测量仪，这域性能和耐久性。 我们的经验在我们服务的市场上允许我们提供特别地被设计的设备提供各种各样的涂层厚度评定应用的准确读数。
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来源： 牛津仪器。