자료 기억 장치 응용을 위한 3D 화상 진찰 그리고 도량형학

AZoM의

Zeta 20 3D 도량형학 현미경

향상된 자료 기억 장치 디자인은 저장판과 그밖 분대 (FIG. 1)에 극단적인 필수품을 요구합니다. Zeta 20 3D 화상 진찰과 도량형학 현미경은 가장자리 둥근 홈 각, 소밀 및 폭을 포함하여 디스크 드라이브의 고성능을 지키는 매개변수, 디스크를 복사합니다, 거의 어떤 표면든지에 읽기/쓰기 헤드, 결점 및 소밀에 측벽 결점, 윤활유 픽업 및 단계 고도 측정합니다. 측정은 생산 또는 실패 분석을 위한 급속하기도 하고 편리한 지키는 높은 정밀도 입니다.

하드 디스크의 숫자 1. 심상.

Zeta 20 도량형학 현미경을 사용하는 측정

Zeta 20로 실행될 수 있는 각종 측정은 2개의 종류로 분류될 수 있습니다

디스크 가장자리 특성.
읽기/쓰기 헤드 특성.

디스크 가장자리 특성

둥근 홈 폭과 각

자동화한 경사 단계는 디스크 가장자리, 뿐 아니라 각 표면 (FIG. 2)의 데이터 지역에 관하여 둥근 홈 폭 및 각을 측정하기 위하여 소밀을 정확하게 맞춥니다. 순서는 다중 위치에 자동화한 측정을 제안합니다.

데이터 지역에 관하여 둥근 홈 폭 그리고 각의 숫자 2. 측정, 뿐 아니라 표면 거칠기.

디스크는 복사합니다

디스크는 존재하는 비행거리 고도가 2개 nm에 접근하고기 데이터가 디스크 가장자리에 되도록 가까이 쓰여지기 때문에 높게 중요합니다 복사합니다. 이 6.5 nm "스키 점프"는 잠재적인 대변동 입니다.

숫자 3. 디스크는 측정을 복사합니다.

실패 분석

위 표면 측벽에 결점의 실패 분석은 분이 걸립니다. Zeta 20를 사용하여 유리 (FIG. 4, 좌)와 금속 모두 (FIG. 4, 맞은) 기질에 트루 컬러 심상 그리고 고도 분석을 장악하는 것이 가능합니다.

(남겨두는) 유리와 금속 (맞은) 기질에 숫자 4. 트루 컬러 심상과 고도 분석.

자석 표하기

심상 자석 표하기에 가능하 검사될 결점을 찾아냅니다 (FIG. 5).

결점 식별을 위한 자석 표하기의 숫자 5. 화상 진찰.

읽기/쓰기 헤드 특성

Zeta 3D 소프트웨어에는 윤활유 픽업을 느끼고 일관된 정량 분석 (FIG. 6)로 일반적으로 손으로 검사를 변환하는 고도 또는 군기에 근거를 둔 지역을 산출하는 기능이 있습니다.

숫자 6. 고도 또는 군기에 근거를 두는 분리되는 지역의 윤활유 픽업 그리고 식별의 자동화된 분석.

Zeta 20는 높은 Z 해결책을 가진 큰 부위를 검사합니다. 이 읽기/쓰기 헤드에는 0.26 μm 및 1.72 μm의 단계 및 1896년 x 1422년 μm의 검사 지역이 있습니다 (FIG. 7).

숫자 7. 견본 읽기/쓰기 헤드의 Zeta 20 측정.

Zeta 20 자료 기억 장치 포장

Zeta 20 3D 도량형학 현미경은 뒤에 오는 것 포함하는 많은 이득을 제안합니다:

자료 기억 장치 측정을 위한 주문을 받아서 만들어진 응용.
- 둥근 홈 폭, 각, 소밀.
- 가득 차있는 읽기/쓰기 헤드 3D 단면도.
- 픽업을 Lube.
표준 디스크 규모를 위한 자동화된 물림쇠.
검사 범위 훌륭한 1개 보다 mm에 미크론 이하 해결책.
높 반사력을 아주 측정하는 능력은 아주 낮 반사력 떠오릅니다.
높 소밀을 아주 결정하는 능력은 아주 낮 소밀 떠오르고 (Nomarski DIC 선택권에).
트루 컬러 화상 진찰.

Zeta 3D 소프트웨어는 일반적인 지상 특성을 위한 제 2 또는 3D 심상을 분석합니다:

단계 고도.
표면 거칠기.
최소 배선 폭, 직경, 지역 및 양.
3D 표면 구상.

숫자 8. Zeta 20 시스템 시리즈.

Zeta 계기에 관하여

Zeta 계기는 녹색 기술과 생물 의학 제품의 제조자를 상당히 수확량과 품질 관리를 향상하는 가능하게 하는 정밀도 미세와 표면 측정 시스템의 주요한 공급자입니다. Zeta에 의하여 진행된 도량형학 해결책은 높 광도 LEDs, 태양 전지, 마이크로 응용 유체 역학/생물공학 및 자석 저장 수단의 생산에 직접적인 이익을 제공합니다. Z-Dot™ 특허가 주어진 기술은 빨리에 제조자를 그리고 정확하게 실행합니다 이 고성장 산업에 전략적인 공급자로 Zeta를 두는 이 응용의 미크론 가늠자 특징의 3D 측정을 가능하게 합니다.

Zeta 계기에서 도량형학 해결책은 이상적으로 이 기업에 의해 대결된 측정 도전을 제시하는 적응됩니다: