Разрешение Анализаторов Размера Частицы Огибания Лазера с Образцами Mutlimodal

В эксперименте по огибания лазера интенсивность разбрасывать от частиц в подвесе измерена как функция разбрасывая угла, светлой длины волны и поляризации света. Математически вычисления можно использовать для того чтобы получить распределение по размеру частицы от сырцовых данных по интенсивности. Ряд, чувствительность и разрешение размера измеряя аппаратуры основаны на своих аппаратном проекте, качестве агрегата и алгоритме ПО. Для того чтобы получить хороший результат, точные деятельность и подготовка образца также необходимы. В процессе, алгоритм анализа данных играет важную роль в получать высокое разрешение и точный результат распределения по размеру частицы от первоначальных данных.

Вообще для демонстрации возможности аппаратуры огибания лазера, использована смесь хорошо, котор характеризуют сфер узкого распределения, потому что для этих образцов, ошибка оператора и экологическое воздействие часто минимальны. Этот образец как multimodal образец. В реальности, самые реальные образцы промышленных или исследования даже не приходят близко к этим узким распределениям. Они типично имеют или узкий одиночный пик или обширный пик с одними или больше modals. Furthermore, распределение и модальность образцов часто неизвестны. Следовательно, хороший алгоритм не должен предполагать любые распределение или модальность образца или/и он должен мочь получить точные результаты с высоким разрешением. Когда алгоритм не может быть прикладной к обширному ряду образцов для получать хорошие и точные результаты, добавление некоторых ограничений может помочь процессу математики и увеличить результату. Типичное ограничение input позволенная ширина модальности и распределения для каждого пика поэтому выход будет одним удовлетворяя ограничение. Если образец соотвествует ограничения как одни используемые в алгоритме, то более лучший результат может (или не смогите) быть получен. В Противном Случае, или будет произведен non-реалистический или пристрастный результат.

Детализирован ниже пример с и без пользы такого ограничения. Аппаратура огибания лазера предлагает 3 варианта для выбора режима анализа, как описано в руководством пользователя:

A: «Одиночный Режим - Это специальный режим анализа для monomodal решеток характеризации. «

B: «Множественная Узкая Часть - Это выдвижение режима Одиночного Режима который конструирован разрешить два или больше весьма узкие части произведенные путем смешивать два или больше материалы monodisperse.»

C: «Общее Назначение - Порекомендованный режим анализа всегда, котор нужно использовать если не будут измеряться решетки характеризации.»

Образец используемый в этом анализе проблемы состоит из trimodal смеси микросфер полистироля с размером частицы μm 0,15, 1,0 и 2,0. Вышеуказанные 3 режима были выбраны для того чтобы проанализировать такой же комплект данных от образца. Результаты Совершенно другой после этого были получены как показано в диаграмме 1. Она очевидна от диаграмм тех, для того чтобы получить распределение по размеру частицы, некоторые данные о материальных потребностях быть знанным. В Противном Случае, невозможно определить который результат правилен. В этот случай, если выбран любой режим за исключением Multi Узкой Части, то будет получен результат низкого разрешения. Но, ибо неизвестный образец другие анализы необходимо сделать прежде чем образец можно проанализировать.

Диаграмма 1. Верхний Слой trimodal образца от различных режимов анализа.

Если оборудование нуждается возможности для того чтобы измерить частицы на некоторое растояние или алгоритм правильно не конструирован, то и настроено, даже с правильными результатами ограничения, неправильных или низких разрешения все еще произведет. Например, когда был использован другой образец субмикрона trimodal от такого же поставщика с режимными размерами 81 nm, 200 nm, и 500 nm и Multi Узкий режим был выбран для того чтобы проанализировать образец, только результат низкого разрешения двухмодовый был получен как показано в диаграмме 2, «кривый Низкого разрешения».

Диаграмма 2. результаты Trimodal от 2 аппаратур различных тавр.

Другая аппаратура от различного изготовления которое использует запатентованный Дифференциал Интенсивности Поляризации Разбрасывая технологию (PIDS) могл достигнуть высокого разрешения. Эта технология включает анализы образцов без делать любой тип предположений или класть все ограничения даже на узкие распределения размера выборки. Эта защищенная патентом технология PIDS убеждается что аппаратура LD может разрешить multimodal образцы на растояние размера как малое как 81 nm без потребности режим-рудоразборки как показано в Диаграмме 2, «кривый Высокого разрешения». Она также доказывает что эта аппаратура PIDS имеет главный алгоритм для того чтобы обеспечить результаты высок-разрешения чем первая аппаратура. Она измеряет что должно быть измерено без потребности сделать предположения или экстраполировать результаты в субмикроне колебаются.

Для аппаратуры огибания лазера для того чтобы измерить любой образец с прежними знанием или презумпцией, необходимые вещи являются следующими: для того чтобы конструировать аппаратуру правильно так она может измерить разбросать изменение интенсивности угловое обидчиво даже в ряд субмикрона, использует подходящий алгоритм умно и тщательно и предлагает пользователям понфтный каждому ПО. Путем спрашивать входной сигнал от пользователей поэтому некоторых ограничений смогите быть прикладной в алгоритме могл работать в некоторых случаях. Для большинств реалистических образцов, прикладывать такие ограничения нет быть применим. Поэтому, реальное испытание характеристики рабочого аппаратуры, своей точности и разрешения, должно быть сделано без любой потребности для приспособления выбора режима.