音響の顕微鏡をスキャンする ICAM は集積回路 (IC) のパッケージおよび同じような部品の急速な非破壊検査のために設計されている高速、十分にデジタルおよび総合システムです。 開発、生産および障害の分析の状態でそれが内部機能の反復可能な、詳細情報を使用することができま、製造業の存在与えるのに、処理およびインサービス欠陥を示します。
超音波科学は設計して、 13 年以上および ICAM のための構築のデジタル超音波試験制度は機械の、電子およびソフトウエア設計のこの結合された専門知識の製品です。 それはシステムのすべての部分の完全なデジタル制御を組み込むので、反復的なタスクのために作動しやすくオペレータ技術の最小値を必要とします。 同時に状態が要求するとき、それに非常に詳細解析を提供する柔軟性があります。
高度の機械およびデータ収集デザインのために、 ICAM はリアルタイムの、高リゾリューションの画像を生成する間 IC のパッケージを高速で点検できます。 通常 25 x 25mm スキャン領域のために、毎秒 15lines までのの速度は達成されます - 250 x 250 のピクセルスキャン画像が約 20 秒に作り出すことができることをこれは意味します。 低分解能の画像はより少ない時間作り出すことができます。
基本的な ICAM システムは目的によって設計されている機械スキャンの段階およびコンピュータベースの超音波およびデータ収集電子工学から成り立つ完全に統合された単位です。 高周波トランスデューサーの範囲はスキャン画像のハードコピーのためのカラープリンターとともに含まれています。 機械スキャンシステムは本来低い振動単位で、扱いにくい基礎アセンブリか重く弱められた土台を必要としません。 これは必要とされたときプラントの異なった位置に容易に移動することができるように、それにコンパクトを移動式し。