開爾文探針是一種非接觸式，非破壞性振動電容器裝置，用來衡量工作的功能（WF）的導電材料或表面潛在的半導體或絕緣表面。表面WF通常是由最上面的1-3層的原子或分子的定義，所以開爾文探針是最敏感的表面分析技術之一。 KP技術系統提供非常高WF 1-3 MeV的決議;目前最高任何商業設備取得。
SKP5050與SPV020是一個全面的Kelvin進行掃描測量其光敏感樣品的研究人員探討解決方案，它與一切生產所需的可靠，可重複的結果，由於“Baikie系統”提供的獨特功能。
SKP5050提供了一個50毫米的50mm的掃描區域，可以記錄多達60中的任何一個測量點至80 。在單點模式SKP5050記錄多達 5000個數據，每測點。 SPV020提供一系列光源的數字控制，並允許不同的強度進行測量。
Baikie系統
所有KP技術系統是根據伊恩Baikie教授開發了獨特的功能。這些功能是無與倫比的任何其他公司。
- 最高工作的潛在功能/表面分辨率為 1 - 3 MeV的（標準）
- 壓電系統相比，音圈驅動程序提供了非常高的驅動程序talkover噪聲抑制
- 關空的信號，提高了分辨率檢測系統 - 我們的信號信噪比（S / N）的功能留在場上無與倫比
- 高度調節功能，以控制在測量過程中，允許穩定，可靠和可重複的結果的掃描針尖樣品間距
- 所有的開爾文探頭參數的全數字化控制
- 快速更換探頭尖端，讓用戶可選擇的空間分辨率
軟件功能
用戶數字控制探頭，探頭頻率，振幅平均間距，噴嘴的潛力。開爾文探針信號和工作功能平均的自動測量。導出數據到Excel兼容的電子表格。該軟件還允許用戶控制機動翻譯人員，允許自定義的（X，Y）掃描，高分辨率的工作函數的地形允許每邊為 50mm。軟件功能針尖在樣品工作的功能和高度的地形樣本的掃描和實時三維報告跟踪控制。
包括哪些
- 開爾文探針頭單元積分提示放大器及提示
- 光開爾文探針山25.4毫米手冊翻譯
- 與黃金 /鋁校準樣品的樣品架
- 3軸電動平移台
- 數字控制單元
- 戴爾電腦與顯示器
- 數據採集系統（在PC上預裝）
- 掃描開爾文探針的軟件（光盤上，並預裝在PC）
- NI - DAQ軟件（CD和預裝在PC）
- 法拉第屏幕
- 備用提示放大器
- 電源單元
- 相關的系統電纜和手冊
- 與光學相機的安排“7”顯示器和光學底座
- 數字示波器
- 光源
- SPV的光學級機箱
- 24個月保修
其他信息
- 掃描系統 - 50毫米x 50毫米
- 高度控制 - 50毫米（手動和自動）
- 位置分辨率 - 0.3175微米
- 跟踪系統 - 自動保持針尖樣品間距為 0.3175微米
- 光源 - LED，麗訊和石英鹵素燈
- 可視化 - 3D地圖的表面電位
- 其他選項 - SPV010，SPS030，SPS040