凱爾文探測是用於的一個沒有接觸，非破壞性的振動的電容器設備評定執行的材料的 (wf)功函或半導體或绝緣的表面表面潛在。 表面的 wf 由原子或分子最上面的 1-3 塊層典型地定義，因此凱爾文探測是可用其中一個最敏感的表面分析的技術。 KP 技術系統提供非常 1-3 兆伏特的高 wf 解決方法; 任何商業設備高度達到的當前。
UHVKP020 是調查在超高真空的研究員的一個完全凱爾文探測解決方法。 此系統包括這位研究員需要導致可靠的一切，可重複的結果，由於 『Baikie 系統』提供的唯一功能。 UHVKP020 記錄在所有一個評定的 40,000 數據點。
Baikie 系統
所有 KP 技術系統根據伊恩 Baikie 教授開發的唯一功能。 這些功能由其他公司是未被超越的。
- 1 - 3 兆伏特的最高的功函/表面潛在的解決方法 (標準)
- 音圈驅動器提供非常驅動器 talkover 噪聲的高拒绝比較壓電系統
- 空信號被改進的解決方法的 - 我們信號噪音比檢測系統 (S/N) 功能在這個域依然是未被超越
- 控制這個技巧的高度章程功能抽樣間隔在允許穩定，可靠和可重複的結果的評定期間和瀏覽
- 所有凱爾文探測參數充分的數字控制
善變的探測技巧允許用戶可選的空間分辨率
軟件特點
探測高度、探測頻率、平均間隔和技巧潛在用戶數字控制。 凱爾文探測信號和功函平均為的自動評定。 數據導出對 Excel 兼容電子表格的。 在範例功函和範例高度地勢期間，掃描和實時第 2 報告軟件特點打翻跟蹤控制。
什麼是包括的
- UHV 凱爾文探測與技巧 (用戶指定的直徑) 的題頭部件
- 數字控制部件
- 50mm 或 100mm 手工譯碼器
- 有監控程序的 Dell 個人計算機
- 數據收集系統 (事先裝配在個人計算機)
- UHV 凱爾文探測軟件 (在 CD 和事先裝配在個人計算機)
- NI-DAQ 軟件 (在 CD 和事先裝配在個人計算機)
- 關聯系統電纜和指南
- 12 個月保修單
附加信息
- 掛接端口 - DN40 (锎 2.75 英寸 OD)
- 掛接幾何 - 抽樣表面的正常
- 抽樣距離的耳輪緣 - 用戶定義
- 真空兼容性 - 2 x 10-11 mBar
- 表面潛在形象化第 2 映射
- 其他選項 - 動力化的轉換， UHVKP010， UHVSKP 或預定 UHV 設計
報價
「您開發的凱爾文探測是非常美妙的使用梯度常值函數，因為這個距離在評定被保留。 設置這個距離在範例和探測之間與其他系統是難。 我們有二公司的凱爾文探測： KP 技術系統是好在區分、從容使用和客戶服務部」。
Shinjiro Yagyu，材料學國家學院，茨城，日本博士。