Ci sono molte ragioni per le quali la famiglia dell'Elemento Tracciante degli Strumenti portatili di XRF si è trasformata nello strumento preferito per gli scienziati principali di conservazione intorno al mondo. Combina la potenza e la flessibilità che vi attendereste da uno strumento sommità banco con la convenienza di un tenuto in mano - grazie ad una certa esplorazione, innovazioni orientate verso l'utilizzatore. Questi comprendono la stessa tecnologia del vuoto che originalmente abbiamo sviluppato in società con la NASA per il programma della navetta spaziale. Lo strumento egualmente viene con a software analitico basato a computer portatile potente, la visualizzazione spettrale di in tensione-tempo e gli obiettivi secondari personalizzabili e del filtro, destinati per ottimizzare la vostra analisi qualunque cosa l'applicazione.
Gli analizzatori dell'Elemento Tracciante XRF permettono il controllo completo degli stati di eccitazione - corrente, tensione e filtro selezionato utente dell'utente per l'ottimizzazione dei termini di misura per indagine sui vostri oggetti. L'Elemento Tracciante III-SD incorpora il Rivelatore privato della Deriva del Silicio di X-Flash® (SDD) che fornisce la risoluzione dell'acquisizione dei dati e migliore ad alta velocità che il rivelatore di SiPIN e la sensibilità tradizionali dell'elemento dell'indicatore luminoso. Quando l'Elemento Tracciante III-SD è gestito con il sistema facoltativo di vuoto l'ultima sensibilità leggera dell'elemento può essere raggiunta.
Oltre allo strumento di base il sistema è fornito con: 1) software analitico basato sommità rivestimento potente che fornisce la visualizzazione spettrale in tensione e l'identificazione di punta completa; 2) un supporto di treppiede che permette il posizionamento tridimensionale preciso dell'analizzatore e 3) addestramento e supporto ineguagliati dell'applicazione.
I vantaggi con un'occhiata
- Le capacità di uno strumento sommità banco, con la convenienza di un tenuto in mano
- A software analitico basato a computer portatile Potente
- Filtri Personalizzabili ed obiettivi secondari per ottimizzare analisi
- visualizzazione spettrale di In tensione-Tempo
- Tecnologia del vuoto sviluppata in società con la NASA per il programma della navetta spaziale
- Il imballaggio di serie include il treppiede 360°
- Tecnologia Privata dello SDD di X-FLASH® (Elemento Tracciante III-SD e IV-SD soltanto)
- Addestramento e supporto Ineguagliati