Den nye D8 OPDAG øger lethed-i-brug med real-time komponent detektion, plug-and-play funktionalitet og fuldt integreret 2-dimensionelle XRD2 kapaciteter. Disse unikke funktioner giver brugeren mulighed for nemt at skifte mellem alle materialer forskning X-ray diffraktion applikationer, herunder Reflectometry, høj opløsning diffraktion, græssende forekomsten diffraktion (IP-GID), små vinkel røntgenspredning (SAXS), samt rest stress og tekstur undersøgelser.
To-dimensionelle VǺNTEC-500 detektoren
Især for mikro-diffraktion og ultra-hurtig reciprokke rum kortlægning, giver den nye to-dimensionelle VǺNTEC-500-detektor med 2048x2048 kanaler ved 144 cm2 aktivt område højeste følsomhed til påvisning af selv de svageste diffraktion signaler i korte måling tider. Den nye D8 OPLEV er designet til at opfylde alle de nyeste X-ray sikkerhedskrav lovkrav, der giver forskerne fred i sindet.
Snap-lock X-ray optik med uden brug af værktøj skift af diffraktion geometri
En integreret del af den nye D8 OPDAG er den nye DIFFRAC.SUITE ™ software med gennemføres konsekvent automatisering funktionalitet. En X-ray optik modul, en detektor, og alt tilbehør monteret på instrumentet registrerer sig i real-tid med sine relevante parametre og analytiske evner, herunder magtfulde afsløring af mulige komponent konflikter. Fabrikken alliancefri, snap-lock X-ray optik give sande 'plug-and-play "-funktionalitet, herunder automatisk og uden brug af værktøj skift af diffraktion geometri med minimal indgriben fra brugeren. Den DIFFRAC.SUITE tilbyder intuitiv betjening er baseret på en grafisk brugergrænseflade, som kan tilpasses til at matche de luftfartsforetagendets krav.