Difractómetro de la Investigación de los Materiales de X'Pert de PANalytical el FAVORABLE es el sistema más flexible disponible para los estudios de la difracción de Radiografía para:
- ciencia material avanzada y nanotecnologÃa
- caracterización metrologic en el desarrollo de proceso del semiconductor
Puede manejar una amplia gama de usos, y es especialmente conveniente para los usos del análisis de la película fina por ejemplo:
- análisis oscilante de la curva y trazado del espacio recíproco
- análisis de la reflectometría y de la fase de la película fina
- análisis de la tensión residual y de la textura
Así como la versión estándar probada del FAVORABLE MILIRUTHERFORD sistema de X'Pert, varias versiones especiales existen:
- difracción del en-avión para medir la difracción de los aviones de enrejado que son perpendiculares a la superficie de la muestra
- una versión extendida permitiendo el montaje de un espejo de la Radiografía y de un monocromador de alta resolución en línea, aumentando la intensidad del haz de incidente
- requisitos de alta resolución del análisis de XRD de los semiconductores, de las películas finas, y de las industrias de los materiales avanzados
- una herramienta avanzada para el desarrollo de proceso de la película fina