薄膜特性的最精确的仪器
的GES5E的SEMILAB SOPRA研发应用的核心仪器。 GES5E集成了先进和成熟的光学机械耦合高性能电子，光谱仪和光谱仪和用户友好的Windows软件设计 GES5E是最近5代开发光谱椭偏模型SEMILAB SOPRA。
GES5E平台的独特优势，高分辨率测量模式和快速测量模式可以在同一平台上共存。这使得材料的开发资质，通过快速的常规映射测量，但也是发展过程的控制。
GES5E光学平台允许从各种测量标准椭圆模式，通过光度测量（透射和反射），散射，发光测量的广义椭圆。所有的测量都是自动完成的功能：波长的发病率，偏振态和时间的角度。标准光谱范围为230 - 900nm，可以在深紫外和近红外区域的扩展，通过选择足够的选项（请参阅东南选项）。材料先进的特性也可以对GES5E运行耦合环境室，加热板，液体细胞和低温恒温器。去年在这一领域的发展是EPA（椭偏Porosimeter大气）选项，使薄膜的孔隙度测量。
GES5E和它的许多选项可以覆盖在材料科学中最先进的R＆D应用的今天。
GES5E被广泛应用于研究实验室和大学在以下领域工作：半导体，光学，光通信，平板显示器，数据存储，薄金属，化学，生物等有机的应用... ...