PT-5 面板测试人员 Gen5 被设计评定符合 GEN-5 标准的薄膜太阳能电池属性。
它合并一 ellipsometer、一位没有接触的抵抗力制图员和阴霾仪表。
分光镜 Ellipsometry (SE) 用于在反映以后检测光极化状态的更改从平面表面。 参数可访问从 SE 包括： 厚度 (从 nm 到几 µm 的)，光学性能 (折射率、消光系数、带隙、吸收和传输) 和有形资产 (坎坷、构成，结晶性)。 在多种基体 (玻璃、金属、硅和塑料箔) 的单层和多层结构使用一非常小的探测区，可以被评定和被分析。 SE5-PV 是一个中试线和生产控制系统朝向往映射在大表面的证言均一。 这个解决方法提供大处理工具供应商，并且最终用户这个能力改进舷梯 PV 制造走近。