CAMECA SC 超明确地被设计适应对动态 SIMS 测量的增长的需要在先进的半导体。
CAMECA SC 的设计超是相当独特的： 与 CAMECA IMS Wf 一起，它是提供极端低冲击能量能力的唯一的 SIMS 仪器没有在大弥撒决议和高传输的妥协。
当 SIMS 技术成熟，用户要减少要求的专门技术达到高增殖率和高精度测量。 这个趋向明显地往未看管，自动分析。 CAMECA SC 超面对这挑战以它的大样品持有人装载批几十倍样品和与它的控制所有分析 paramaters (分析食谱，仪器设定的计算机自动化，等等)。