SAXSess mc は2小型角度の X 線分散を使用して nanostructure の分析のための新しい測定システムです (SAXS)。 Nanosized の粒子およびサンプル領域は小さい角度の方に分散します。 SAXS パターンはこれらの粒子の全面的なサイズそして形で情報を提供します。 SAXSess mc のモジューラシステムアーキテクチャは2ユーザーが彼らのアプリケーションに最適セットアップを選ぶことを可能にします。 これはそれに蛋白質、食糧、医薬品、ポリマー、 nanoparticles および触媒を含む異なった材料の nanostructures を、調査するためのユニバーサルツールをします。
小さい天才
- コンパクトデザインは高輝度および使い易さを保障します
- 短い測定の時間はサンプルスループットを増加します
- 利発な視準の概念は 200 nm を越える無比の測定の範囲で起因します
すべての必要性のためのモジュール性
- 使用できるいくつかの強力な X 線ソースおよび高度の探知器
- TrueSWAXS - 40° 散乱角までの同時小型および広角の測定
- SmartSAXS - 最終的な実験可能性のための二重 beamline オプション
- すべてのシステム機器は小さい足跡の 1 つのコンパクトなプラットホームで統合されます
オプションを扱う無比のサンプル
- あらゆるサンプルのための多目的なサンプルホールダーはタイプします (蛋白質、ポリマー、等)
- -150°C からの 300°C への精密な温度調整
- 可能な容易の液体および固体の高いスループットスクリーニング
- サンプルマップのための多方向の位置
強力な制御およびデータ解析のソフトウェア
- タイムおよび温度依存した実験のための完全なシステム自動化
- カスタマイズ可能なテンプレートを使用して速く、簡単なデータ処理
- データ解釈およびモデル計算のための多目的なソフトウェア