AFM Convivial Performant pour des Matériaux Recherche, Sciences de la Vie et Nanotechnologie
L'alpha300 A intègre un système d'AFM avec un microscope optique de catégorie scientifique pour l'enquête par échantillonnage optique supérieure d'accès et de haute résolution. L'inclusion d'un objectif spécial d'AFM permet l'observation simultanée d'encorbellement et d'échantillon, qui fournit le positionnement précis d'encorbellement et l'alignement rapide. La facilité d'emploi et la polyvalence de ce système composé peuvent bénéficier une énorme variété d'efforts scientifiques.
Le WITec AFM-Objectif permet l'échantillon de haute résolution et simultané et la vue en porte-à-faux provenant du dessus. Tous Les modes standard d'AFM sont soutenus, assurant la flexibilité la plus élevée dans toute la gamme complète des applications d'AFM. Si vous travaillez dans des environnements d'air ou de liquide, ou même avec les échantillons sensibles et mous, l'alpha300 A est idéalement adapté à l'enquête sur les structures topographiques au plus de haute résolution. Pour des tâches performantes de représentation de recherches de matériaux, l'alpha300 A peut être équipé du Mode Pulsé de Force, permettant aux propriétés extérieures locales telles que l'adhérence ou la rigidité locale d'être reflètentes avec la topographie sur l'échelle de nanomètre.