SR300 分光镜反射仪 & 胶片厚度测量系统可以用于测量 thinf 影片和涂层胶片厚度、 R.i.、反射、传输和吸收光谱。
特点
SR300 分光镜反射仪 & 胶片厚度测量系统的特点是如下：
- 容易设定
- 容易经营与窗口根据软件
- 先进的光学为最佳的系统性能设计
- 排列基于探测器系统保证快速的测量
- 更好的强度稳定的独特地被设计的光源
- 有四种方式调整光强度：
- 由瘤的功率输出调整从电源
- 插入过滤器入过滤器槽孔在光辐射出口口岸
- 放光大小调整
- 在探测器的综合化时间调整从 TFProbe 软件
- 测量胶片厚度和 R.i. 由 5 层数决定
- 在毫秒准许获取反射、传输和吸收光谱
- 可胜任为实时或轴向厚度， R.i. 监视将使用
- 系统来与全面光学常数数据库和图书馆
- 先进的 TFProbe 软件允许用户为每部单独影片使用 NK 桌、分散作用 (EMA)或者有效的媒介略计。
- 可升级对 MSP (显微分光光度计) 系统， SRM 制图系统，多频道系统，直接测量的大斑点在被仿造的或特色结构
- 运用于许多基体的另外类型与另外厚度的
- 各种各样的辅助部件可利用为特别配置例如在曲线的连续测量浮出水面
- 第 2 和 3D 产品图表和用户友好的数据管理接口
应用
SR300 分光镜反射仪 & 胶片厚度测量系统适合使用在：
- 半导体制造 (PR，氧化物，氮化物。)
- 液晶显示 (ITO， PR，细胞空白 .....)
- 辩论术、生物影片和材料
- 墨水，矿物学，颜料，调色剂
- 配药，中间设备
- 光学涂层， TiO2， SiO2， Ta2O5 .....
- 半导体化合物
- 在 MEMS/MOEMS 的功能影片
- 无定形，纳诺和水晶 Si