L'EFFORT D4 est une Solution de Diffraction Des Rayons X (XRD) Pour l'analyse du matériel polycristallin au moyen de diffraction de poudre de Rayon X. L'EFFORT D4 exécute l'analyse cristalline qualitative et quantitative de phase, l'analyse maximale de profil, la détermination de contrainte résiduelle et les solutions de structure. Comme tel il fournit la représentation optima pour le processus et le contrôle de qualité dans les industries d'aluminium, de ciment, de chimie, de géologie, pharmaceutiques, et de colorant.
Détecteurs à une dimension Innovateurs de Rayon X
En plus de son exactitude, répétabilité et sérieux prouvés, l'EFFORT D4 comporte la modularité de la famille des Solutions de Diffraction de Bruker AXS. L'EFFORT D4 peut être équipé des détecteurs à une dimension innovateurs de Rayon X - LYNXEYE ou VÅNTEC-1 - pour fournir une énorme réduction de temps de mesure par échantillon.
Approche Fondamentale de paramètre mise en application dans TOPAS
Le logiciel unique de TOPAS convertit l'EFFORT D4 en vrai pionnier. L'analyse Quantitative de diffraction des rayons X Et l'analyse de microstructure peuvent être exécutées sans besoin d'échantillons standard dus à l'approche fondamentale de paramètre mise en application dans TOPAS. En outre, l'automation complète sans le besoin d'intervention d'utilisateur est possible avec le BBQ de TOPAS.
Il est facile utiliser L'EFFORT D4. L'interface d'automation est claire et le chargement d'échantillon est effectué par l'intermédiaire d'une bande de conveyeur ou d'un robot. L'EFFORT D4 est équipé de la plus grande magazine témoin disponible et permet à une grande variété de différents échantillons d'être chargés dans un groupe simple. Les échantillons peuvent être minces, petits dans la taille ou quantité, poudre de forme irrégulière, sensible environnemental, orientée, ou poudre typique.