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Capteurs LM Wafer Mapping à partir MultiMetrixs

Améliorer la fiabilité et le débit de votre robotisés de manipulation de wafer avec les capteurs de nouvelle génération de cartographie du wafer MultiMetrixs. Capteurs réfléchissants LM aider à contrôler la position de la plaquette à différents stades dans le processus de prise de puces. Avec une distance de détection de plus de 5 pieds et la résolution à 10 microns, les capteurs LM gérera la majorité des applications liées à l'alignement de plaquettes et de cartographie. Capteurs LM plaquette de cartographie sont la solution la plus techniquement avancée et rentable sur le marché aujourd'hui.

Last Update: 10. October 2011 02:47

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