Il microscopio elettronico a scansione dell'emissione di campo di Agilent 8500 (FE-SEM) ha una piccola orma e fornisce ai ricercatori un FE-SEM nel loro proprio laboratorio. La progettazione novella del microscopio permette all'alto contrasto di superficie, alla rappresentazione a bassa tensione ed all'alta risoluzione a cui sia normalmente possibile soltanto in più grandi microscopi di emissione di campo di qualità superiore.
SEM è approssimativamente la dimensione di una stampante a laser, facile installare ed offre la prestazione pronta per l'uso conveniente. Non c'è esigenza di tutti gli impianti dedicati, appena uno sbocco di corrente alternata È sufficiente. Il sistema innovatore del scientifico-grado fornisce un intervallo delle tecniche di rappresentazione per contribuire a migliorare il contrasto di superficie e permette alle funzionalità del nanoscale di essere osservato su una vasta gamma di materiali nanostructured quali le pellicole sottili, i polimeri, i biomateriali ed altri a campioni energia sensibili su tutto il substrato, anche su vetro.
Caratteristiche Fondamentali E Specifiche
Le funzionalità principali e le specifiche del Agilent 8500 FE-SEM sono:
- Rappresentazione e risoluzione equivalenti a quella di Tecnico di assistenza-SEMs convenzionale
- La bassa tensione Variabile elimina i requisiti del rivestimento del campione e del carico
- Una fase programmabile di X-Y-Z permette agli utenti di fissare le coordinate accurate come pure posizioni di risparmi e di scansione
- Una progettazione elettrostatica della lente assicura la prestazione costante senza la ri-sintonizzazione costante
- L'orma Piccola permette l'impianto facile in tutto il laboratorio di ricerca e non ha bisogno degli impianti speciali