Agilent 8500 フィールド放出走査型電子顕微鏡 (FE-SEM) に小さい足跡があり、彼らの自身の実験室の FE-SEM を研究者に与えます。 新しい顕微鏡デザインは普通より大きいハイエンドフィールド放出顕微鏡でだけ可能でであって下さい高い表面の対照、低電圧イメージ投射をおよび高リゾリューションを可能にします。
SEM はおよそインストールすること容易なレーザ・プリンタのサイズで便利なプラグアンドプレイパフォーマンスを提供します。 あらゆる専用機能のための必要性が、ちょうど交流電力のアウトレットあります十分がありません。 革新的な科学等級システムは表面の対照を高めるのを助けるように映像技術の範囲を提供し、 nanoscale 機能をガラスのあらゆる基板の薄膜、ポリマー、生体材料および他のエネルギーに敏感なサンプルのような nanostructured 材料の広い範囲で、観察されることを可能にします。
主要特点および指定
Agilent の主な特長そして指定は 8500 FE-SEM 次のとおりです:
- 慣習的な FESEMs のそれと同等のイメージ投射および解像度
- 可変的な低電圧は充満およびサンプルコーティングの条件を除去します
- プログラム可能な X-Y-Z の段階はユーザーが正確な座標をセットすることを可能にします、またスキャンおよび保存の位置
- 静電気レンズデザインは一定した再調整しないで堅実なパーフォーマンスを保障します
- 小さい足跡はあらゆる研究所の容易なインストールを可能にし、特別な機能を必要としません