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전계 방출 스캐닝 전자 현미경 (Agilent 기술에서 FE-SEM) 8500

Agilent 8500 전계 방출 스캐닝 전자 현미경 (FE-SEM)에는 작은 발자국이 있고 그들의 자신의 실험실에 있는 FE-SEM를 연구원에게 제공합니다. 비발한 현미경 디자인은 일반적으로 더 큰 상한 마당 내쏘기 현미경에서서만 가능하십시오 높은 지상 대조, 낮 전압 화상 진찰을 및 고해상을 가능하게 합니다.

SEM는 대략 설치하게 쉬운 레이저 프린터의 규모 이고, 편리한 플러그 앤 플레이 성과를 제안합니다. 어떤 전용 기능든지를 위한 아무 필요도, 다만 교류 전원 출구 입니다 충분합니다 없습니다. 혁신적인 과학 급료 시스템은 지상 대조를 강화하는 것을 돕도록 화상 기술의 범위를 제공하고 nanoscale 특징을 유리에 조차 어떤 기질든지에 박막 중합체, 생체 적합 물질 및 그밖 에너지 과민한 견본과 같은 nanostructured 물자의 넓은 범위에, 관찰되는 가능하게 합니다.

주요 특징 및 논고

Agilent의 주요 특징 그리고 논고는 8500 FE-SEM:

  • 전통적인 FE SEMs의 그것과 동등한 화상 진찰과 해결책
  • 변하기 쉬운 낮은 전압은 비용을 부과 및 견본 코팅 필수품을 삭제합니다
  • 풀그릴 X-Y-Z 단계는 사용자를 정확한 협조를 놓는 가능하게 합니다 뿐 아니라 검사와 득점방해 위치
  • 정전기 렌즈 디자인은 일정한 재 조정 없이 일관되는 성과를 지킵니다
  • 작은 발자국은 어떤 연구소든지에 있는 쉬운 임명을 허용하고 특별한 기능을 필요로 하지 않습니다

Last Update: 24. February 2012 05:43

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