Agilent 8500 場致發射掃描電子顯微鏡 (FE-SEM) 有一個小的腳印并且提供研究員以 FE-SEM 在他們自己的實驗室。 新穎的顯微鏡設計啟用通常请是仅可能的在更大的高端場致發射顯微鏡的高表面對比、低壓想像和高分辨率。
SEM 近似是激光打印機的範圍，容易安裝，并且提供方便即插即用性能。 沒有對所有專用的設施的需要，交流電能出口是滿足的。 創新科學級別系統在各種各樣的 nanostructured 材料提供成像技術的範圍幫助提高表面對比并且使 nanoscale 功能被觀察例如薄膜、聚合物、生物材料和其他能源敏感的範例在所有基體，甚而在玻璃。
關鍵功能和說明
Agilent 的主要功能和說明 8500 个 FE-SEM 是：
- 想像和解決方法等同與那常規 FESEMs
- 可變的低壓消滅充電和範例塗層需求
- 一個可編程序的 X-Y-Z 階段使用戶設置準確坐標以及掃描和保存地點
- 一個靜電透鏡設計保證一致的性能，无需恆定再調整
- 小的腳印在所有研究實驗室允許容易的安裝，并且不需要特別設施