CRAIC-Teknologier, den ledande producenten av UV-synliga-NIR mikroskop och microspectrometers, behas för att meddela att QDINA 2010 Filmar microspectrophotometeren. QDINA 2010 Film instrumenterar planläggs att mäta tjockleken av tunt filmar av under-mikronen som snabbt och non-destructively tar prov områden.
Kompetent filmar att analysera av många material på både genomskinligt, och täckande substrates, QDIEN Film™ 2010 möjliggör användaren för att bestämma thin filmar tjocklek på allt från halvledare, MEMS-apparater, diskdrev för att sänka panelskärmar. När det kombineras med privat förorening för CRAIC-Teknologier som avbildar kapaciteter, föreställer QDIEN Film™ 2010 en ha som huvudämne kliver framåtriktat däri den planläggs specifikt för industriellt bearbetar.
”Önskar Många av våra kunder att mäta tjockleken av tunt filmar av mindre, och mindre ta prov områden för den kvalitets- foren kontrollerar av deras produkter. Microspectrophotometeren 2010 för QDI Film™ byggdes som svar på kundförfrågan för ett kraftigt som var böjliga filma tjocklek bearbetar som kan mäta under-mikron områden på både genomskinliga och täckande substrates. QDIEN Film™ 2010 något att sägaDr. Paul Martin, President möter för de behov”.
De avancerade microspectroscopy för färdiga lösningssammanslutningar för QDI 2010 Film™ med sofistikerad programvara som möjliggör användaren för att mäta, filmar tjocklek vid endera överföringen eller reflexion av många typer av material och substrates. Tack vare planlägger böjligheten av CRAIC-Teknologierna och att ta prov områden kan spänna från över 100 mikroner across mindre än en mikron. Planlagt för produktionmiljön, inkorporerar den ett nummer av som ändras lätt bearbeta recept, filmar kapaciteten att skapa nytt recept, och sofistikerat bearbetar för analysering av data. Kapaciteten direkt att avbilda och analysera filmar med ultraviolett microscopy kan också tillfogas till denna instrumenterar.