CRAIC 技术，紫外可视NIR 显微镜主导的制造商和 microspectrometers，高兴地宣布 QDI 2010 影片显微分光光度计。 QDI 2010 影片仪器被设计迅速地评定亚显微抽样的区薄膜的厚度和非破坏性。
能分析许多材料影片在透明和不透明的基体的， QDI 2010年 Film™使这个用户确定在一切的薄膜厚度从半导体， MEMS 设备，对平板显示器的磁盘驱动器。 当结合以 CRAIC 技术所有权污秽想象功能， QDI 2010年 Film™表示一个主要进步因为它为工业生产方法特别地设计。
“许多我们的客户要评定越来越小的抽样的区薄膜的厚度他们的产品迅速质量管理的。 QDI 2010年 Film™显微分光光度计被编译了以回应客户要求可能评定在透明和不透明的基体的亚显微区的一个强大，灵活的胶片厚度工具。 QDI 2010年 Film™适应那些需要”说保罗・马丁，总统博士。
完全 QDI 2010年 Film™解决方法结合先进 microspectroscopy 以复杂的软件使这个用户由传输或反射率材料和基体的许多类型评定胶片厚度。 由于 CRAIC 技术的灵活性比一微米请设计，抽样区能从 100 微米范围。 设计为生产环境，它合并容易地被修改的一定数量处理处方，这个能力创建新的影片处方和复杂的工具为分析数据。 对直射影象的能力和分析与紫外显微学的影片可能也被添加到此仪器。