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A Oficina da Microscopia do Íon do Feixe Transversal e do Hélio Atrai sobre 150 Participantes

Published on May 4, 2009 at 10:13 PM

Mais de 150 cientistas e usuários dos sistemas do Microscópio de Íon da Viga mestre e do Hélio de ZEISS encontrados na ?a oficina Européia do usuário em Dresden. Em diversas sessões os participantes obtiveram uma vista geral em desenvolvimentos de produtos e em novas aplicações actuais.

Depois de uma apresentação da estação de trabalho nova da Viga mestre do AURIGA (FIB-SEM) e de seu potencial enorme da aplicação, usuários apresentou a introspecção profunda em seu trabalho actual da investigação e desenvolvimento realizado com sistemas da Viga mestre de Carl Zeiss. Os Assuntos variaram das aplicações na Tecnologia de Semicondutor à análise material, às células solares baseadas de fita fina assim como à fabricação de micro e de nanodevices para a biomedicina.

Uma sessão o mais ansiosamente antecipada foi dedicada ao microscópio do Hélio-Íon de ORION. “As apresentações de Conny Rodenberg da Universidade de Sheffield e de Frank Altmann do Instituto de Fraunhofer para Mecânicos dos Materiais (Halle) fizeram claramente o potencial original desta tecnologia emocionante”, Gerd explicado Maußner, de Areva NP GmbH (Alemanha), um dos participantes da reunião.

No Leibniz-Instituto da Pesquisa do Polímero, que igualmente actuou como o “co-apresentador” da oficina, e no Centro de Inovação de Carl Zeiss, os programas demonstrativos do produto terminaram esta reunião de usuário bem sucedida.

Last Update: 13. August 2012 12:30

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