Veeco Instruments Inc. (Nasdaq : VECO), le premier fournisseur de la technologie atomique de microscopie de force à la communauté de nanoscience, annoncé aujourd'hui la Cote (R) Système Atomique de Microscope de Force d'Arête (TM (AFM)) pour l'enquête d'examen médical et de sciences de la vie. Ceci qui offre le plus tard seul suit cinq releases importantes d'AFM de Veeco en 2009, et offre la performance classe meilleure de l'Icône de Cote (R) dans un module simplifié avec une empreinte de pas compacte. Les chercheurs de Nanoscale maintenant peuvent employer les premiers niveaux de la capacité d'AFM aux coûts du système inférieurs et avec le fonctionnement profilé.
« Nous continuons à nous développer et sortir les produits neufs révolutionnaires d'AFM, des modes et des améliorations de système visées permettant à nos abonnées de pousser des bornes scientifiques et de fixer des normes neuves dans leur travail, » a dit David Rossi, Vice Président et Directeur Général des Affaires de l'AFM de Veeco. « Nous voulons également supprimer coût et productivité faisant face aux chercheurs d'aujourd'hui. Avec l'Arête de Cote, Veeco affiche de nouveau son dévouement à rendre des matériaux de nanoscale et la caractérisation de dispositif accessibles à chaque installation et utilisateur. »
Au Sujet de l'Arête de Cote
L'Arête mi-évaluée AFM de Cote comporte les avances de matériel et de logiciel qui réduisent le temps nécessaire pour produire des données niveau de l'expert, fournissant un chemin sans joint à partir de l'emplacement d'échantillon par l'identification optique de la région d'intérêt, et à partir du mode d'enquête d'AFM à changer de plan-dans l'identification de caractéristique technique. Le stade en boucle bloquée du système et chassoir-compensé de propriété industrielle permettent la productivité, l'exactitude, et les avantages de souplesse d'échantillon d'un grand-échantillon, système en boucle bloquée à combiner avec la saisie des images haute résolution traditionnellement seulement réalisées par le petit-échantillon, systèmes de boucle ouverte. Avec des niveaux plus à faible bruit, le système d'AFM d'Arête de Cote permet le ramassage des petits groupes plus bons critiques à l'identification matérielle correcte, tout en protégeant des extrémités fragiles et des échantillons, et diminuant des artefacts d'extrémité.
Cette performance de noyau, avec une offre large des modes d'AFM, donnent à l'Arête de Cote la représentation particulièrement précise et les capacités uniques de spectroscopie exigées pour beaucoup d'applications, y compris la caractérisation des dispositifs solaires et de semi-conducteur, le mappage des matériaux polymère-basés hétérogènes, interrogation de différents nanoparticles, et représentation in situ des échantillons des sciences de la vie provenant des molécules uniques aux cellules entières.