Agar Scientific est heureux d'annoncer la disponibilité de l'AFM à partir SuperFlat Kleindiek de combiner la puissance d'imagerie de la SEM et AFM.
Le Kleindiek SuperFlat AFM monté pour une utilisation dans un microscope électronique à balayage
L'AFM SuperFlat combine la puissance de la SEM et AFM. Informations sur les dimensions latérales et du matériel de l'inspection in situ peut être complété par l'AFM topographiques et précise des informations de frottement. La disponibilité sans effort de ces deux ensembles de données est unique pour un tel système et ouvre de nouvelles voies d'investigation et de caractérisation.
La caractéristique la plus étonnante de l'AFM SuperFlat est sa taille. L'outil est plat et assez compact pour tenir dans la majorité des SEM à sas, permettant une facilité d'utilisation et le débit augmente. De plus, sa taille offre une stabilité énorme et avantages d'amortissement des vibrations, qui sont particulièrement attrayants en utilisant l'outil ex-situ.
Les efforts de conception comprenait également assurer une manipulation facile et l'échange pointe. Un échange d'échantillons ou de la pointe ne prend qu'une minute et un procédé laser fastidieuse ajustement n'est pas nécessaire. En éliminant la force optiques complexes de lecture, la taille du système pourrait être réduite à une hauteur de 10mm. Les petites dimensions permettent de charger et lockablility débit d'échantillons donc élevé.
Le SF-AFM se compose d'un micromanipulateur et un super plat piézo scanner monté sur une plate-forme de chargement verrouillable. L'AFM est monté sur le micromanipulateur - qui a une résolution de 0,25 nm dans les directions X et Y et 3 nm dans la direction Z. Une fois le cantilever a été positionné sur la zone d'intérêt, le scanner piézo est utilisé lors de la mesure de l'AFM. Le scanner à trois axes piézo a une plage de balayage de 15 um, 15 um, 3 um et une résolution de 0,25 nm. Il peut être utilisé pour l'imagerie AFM ainsi que pour la force d'enregistrement vs courbes de distance.
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