Agilent Technologies Inc (NYSE: A) hari ini mengumumkan Sirkuit Terpadu Karakterisasi dan Analisis Program (IC-CAP) Wafer Profesional (WaferPro) perangkat lunak. Perangkat lunak baru menyediakan situs multi-, multi-wafer, DC dan RF otomatis solusi pengukuran untuk aplikasi pemodelan perangkat semikonduktor.
WaferPro memungkinkan pengguna untuk mengontrol stasiun menyelidiki semi-otomatis dan sepenuhnya otomatis. Dengan dukungan matriks saklar terbaru dan solusi termal chuck, WaferPro mengotomatiskan pengukuran spot dan menyapu di berbagai suhu. WaferPro kemampuan untuk langsung mengontrol dan 4080 4070 Agilent sistem parametrik tes sangat meningkatkan kecepatan pengukuran.
Dengan WaferPro, mereposisi wafer ditangani secara otomatis pada setiap perubahan suhu, menghilangkan kebutuhan untuk insinyur untuk mengawasi pengukuran. Rencana uji dapat dijalankan secara otomatis pada stasiun pengukuran yang berbeda, dengan hardware yang berbeda, yang memungkinkan pemanfaatan maksimal peralatan laboratorium. Dibangun pada arsitektur canggih, WaferPro juga memungkinkan analisis data yang efisien dan pengolahan dan menyediakan dasar untuk masa tugas pemodelan maju.
"Perangkat pemodelan kompleksitas terus berkembang, meningkatkan jumlah pengukuran yang diperlukan untuk ekstraksi dan verifikasi," kata Chris Morton, manajer bisnis model Agilent EEsof EDA di perangkat. "Pemodelan statistik merupakan tantangan bagi pengecoran, tetapi juga merupakan prioritas bagi desainer berurusan dengan transistor yang lebih kecil dan aplikasi yang lebih kompleks. Selain itu, sistem uji parametrik Agilent sedang semakin dipasang di laboratorium pemodelan perangkat, tidak hanya dalam pengembangan proses dan lingkungan produksi. WaferPro adalah yang pertama dalam serangkaian produk baru yang membahas tantangan-tantangan ini kepala-on. "
WaferPro didistribusikan dengan software yang baru dirilis Agilent IC-CAP 2010,08.
Sumber: http://www.agilent.com/