Bosch がシュトゥットガルト、ドイツの 「団体のセクターの研究および前進工学」 (団体の研究) 機能でサポート高度の研究開発の作業にゼータ200 の光学度量衡学システムを選んだことを Zeta Instruments、 Inc. 費用有効の一流の提供者、発表されるミクロンスケールの表面の分析のための精密測定の解決。
技術およびサービスの一流の全体的な製造者はゼータの 3D の表面イメージ投射および photovoltaics および MEMS (マイクロエレクトロ機械システム) の進歩を含む Bosch R & D の作業の範囲と、関連付けられた厳密な測定の条件を満たすために度量衡学の解決を選択しました。
深くの急速な 3D イメージ投射、高面の比率機能を、ステップ高さの収集提供する、ゼータ200 の顕微鏡システムてこ比のゼータの特許を取られた Z 点の技術荒さ、次元、角度およびボリュームを、サンプルに連絡するか、または傷つけないですべて可能にします。 非破壊的な測定の機能、ユーザーが原因ですぐに流動マイクロチャンネルの製造のための製品開発を加速する非常に高いアスペクトレシオ機能を特徴付けられます。 それはまた荒い点検し、少しだけライトをある表面を反映することを可能にすることによって太陽電池の研究を助ける非常に高い荒さや低い反射力特別が複雑で、非平らな表面のイメージ投射を可能にします。
Z 点の技術光学イメージ投射システムによってすぐに 3 つの次元のミクロンスケールの表面機能をマップことできて下さい。 分の下にでは、ゼータ200 は縦に Z で、また X および Ｙ軸でサンプルの正確な測定を提供するために 15 ナノメーター小さい増分の表面をスキャンします。 ほとんどの測定システムに難しさがこれらの表面を測定することをありますまたは複雑なサンプルアラインメントおよび準備がそうするように要求して下さい。 ゼータ200 は必要とする使いやすい光学測定のツールで競争のツール上のより速い実施そしてよりよい値を代わり提供しますよりより少ないトレーニングそして維持を。
「ゼータ200 と私達は私達の太陽電池および MEMS の構造をできま、すばらしい効率およびより低いコストを測定製造プロセスに持って来ます、迅速かつ確実に」、トマス Wagner の Bosch の団体の研究のシリコン太陽電池先生示される。 「私達は多数の度量衡学オプションを評価し、ゼータ200 手を選択しました; それは時機を得た、費用有効方法の成果重視の度量衡学のフィードバックの提供によって彼らのフィールドの最前線にとどまることを可能にします私達の調査チームが」。
アプリケーション特有のソフトウェアとつながれて、ゼータ200 はレーザーの共焦点の顕微鏡のそれらより優秀なイメージ投射および測定の機能を提供します。 さらに、ゼータは本当カラーイメージ投射を提供し、システム費用を下げ、そしてより低い維持およびより大きい使い易さにより簡単な全体の設計を提供します。 干渉計ベースの顕微鏡システムのような他の解決はスキャンしている間電子顕微鏡が非常に高解像イメージ投射を提供するが、長い必要とする細心のサンプルアラインメントを必要とし、難しさがありましたりまたは効果的に MEMS で使用されるそれらのような (SEMs)深機能サンプルを測定してなかったり、頻繁に有害な、サンプル準備および本当カラー画像を提供できません。
、 Rusmin Kudinar は注意される困難に測定の表面のアレイにゼータの器械の大統領 「Z 点の技術精密測定の利点を提供し、太陽電池および人間工学のアプリケーションに寄与するために理想的適します。 私達は Bosch が彼らの度量衡学プロセスのこの重大なコンポーネントを供給してクラスでよく、名誉を与えられて私達の解決を」。見つけたこと喜んでいます
ゼータの計器システムは単一の統合された測定のツール内の多機能の度量衡学機能の提供で一義的です。 ゼータ200 にフィルム厚さの写真分光計、 Nomarski/q-DIC の低対照イメージ投射光学および構成を扱うさまざまなサンプルのためのオプションがあります。 これらのオプションはユーザーがナノメータースケール機能が付いている反反射コーティング、光硬化性樹脂および超スムーズな表面のようなサンプルの透過薄フィルムを測定するために、また多重物理的なオリエンテーションのサンプルを測定することを可能にします。