С Phenom нового изделие proX, Phenom-Мир расширяет свое продукт-портфолио с элементным анализом. Это снабжено в линии с всеми продуктами Phenom-Мира: Поддержание качества, скорости и легкия в использовании рынка ведущих.
С польностью врезанным Phenom proX системный анализ как легок как воображение любой образец. Переключать между пакетами программ или компьютерами история с системой Phenom-Миров неразъемный.
Настольный Компьютер SEM Phenom с proX.
Полно интегрированная система
Продукты Phenom-Мира сосчитаны как высокомарочно, быстро и легко для использования. Путем расширять номенклатуры товаров step-by-step, Phenom-Мир могл увеличить пользу их системы и адресовать специфический рынок в очень сфокусированном путе. Элементный анализ следующий шаг который интегрирован в серии системы Phenom профессиональной как часть разрешения применения Сюиты Phenom Профессионального. Современный EDS-детектор врезан в системе Phenom proX и не требует никакого дополнительного настроения привязывать или клиента. Это делает установку и деятельность системы безшовной и беспокойства свободного. Работая систему, любая характеристика может быть imaged и проанализирована без переключать между ПК или системами. Используя Phenom профессиональная система остает этим же.
Emile Asselbergs, CEO на Phenom-Мире: «С большим восторгом, мы вводим EDS «путь Phenom». Это значит что мы дает нашим клиентам доступ к анализу с легкием в использовании точного такой они использованы к с режиму воображения. Мы чувствуем уверенно что это введение нового продукта включит более дальнеиший рост для нашей компании путем давать нашим клиентам функциональность им».
Представления Phenom proX
Осматривать трехмерные изображения микроскопических областей только разрешает половину проблемы в анализе. Часто необходимо определить различные элементы связанные с образцом. EDS аналитически метод который может проанализировать Рентгеновские Снимки которые произведены образцом бомбардировано высокомарочным лучом электронов Phenom CeB6 для того чтобы определить изначальный состав образца. Воображение SEM образца от продукции может показать загрязнение с неизвестным веществом или включение неизвестных частиц. С интегрированным Phenom анализом Рентгеновского Снимка эти частицы можно быть расмотрены и их начало состава и потенциала легко показать. Анализ Рентгеновского Снимка также важен контролируя производственный процесс которому нужно создать последовательный материал - смешивание или специфический consistence материалов, как изготовление сплавов и керамики.