Аппаратуры Оксфорда довольный для того чтобы объявить новый анализатор флуоресцирования Рентгеновского Снимка (XRF) X-Strata920 для измерения толщины покрытия и анализа материалов.
Она совмещает детектор обширного района пропорциональные и пробку Рентгеновского Снимка микро--фокуса Аппаратур Оксфорда, обеспечивая высок-интенсивность, малый луч Рентгеновского Снимка пятна для главного возбуждения образца. Эта комбинация гарантирует самую лучшую точность в своем типе, при результаты анализа полученные в секундах для того чтобы обеспечить более лучшую эффективность управления производственным процессом и цены.

Новый анализатор флуоресцирования Рентгеновского Снимка (XRF) X-Strata920 для измерения толщины покрытия и анализа материалов от Аппаратур Оксфорда.
Так анализируете ли вы сплавы припоя как часть вашего процесса проверки качества, или jewellery золота assay для валюации, или толщины плакировкой в компонентном изготовлении, мы верим что X-Strata920 идеально разрешение для вашего дела, обеспечивая надежный анализ вам на цене вы полюбите.
X-Strata920 выполняет превосходные анализ и характеризацию разнослоистого анализа через широкий диапазон промышленных рынков, включая assay электроники, отделки металла, сплавов и драгоценных металлов. Для этих индустрий, X-Strata920 предлагает несколько преимуществ:
- Увеличьте урожайность с более лучшим управлением производственным процессом
- Уменьшите цену производства процесса плакировкой и увеличьте выход продукции
- Быстрый, анализ без разрушения jewellery и другие сплавы
- Быстрый анализ до 4 покрывая слоев
- Пол-Доказанная технология и более лучшая надежность обеспечивающ значение на год денег после года
- Легко для использования, при минимальная требуемая тренировка пользователя
X-Strata920 конструировано легко пользы, точности и значения для денег в разуме. Большую зону образца можно проанализировать в одном цикле измерения используя функцию анализа X-Слоев многопунктовую. Если проблемный участок определен, то оператор может возвратить к специфическим пунктам с точностью пункта штыря для детального исследования. С воображением камеры анализатора врезанной и видео в реальном маштабе времени, точное размещение образца конечно. X-Strata920 даже позволяет работе без оператора обеспечить минимальные времена простоя вашего производственного процесса.
X-Strata920 приходит с выбором пакетов тарировки портняжничанных для широкого диапазона материалов экранируя применения; поджатый анализатор поставлен с над 800, легк-к-отборные параметры применения/методы.
Для того чтобы построить доверие потребителя X-Strata920 встречает международные методы испытания как ASTM B568 и ISO 3497.
С своими предварительной характеристиками обеспеченностью и безопасностью, X-Strata920 обеспечивает простой пользовательский интерфейс для по заведенному порядку оператора пока убеждающ менеджера ровный доступ для системы настроил и предотвращающ недозволенное использование через свою функцию автоматического замка. Улучшенная сообщая функция позволяет безшовному экспорту к Первенствовать в пределах секунд и экспорту в изготовленных на заказ рапорт, включая анализ статистических данных и изображения пробовать.