KP-6000 數字式凱爾文探測 是用於的一個振動的電容器技術評定在金屬、半導體和液體上的功函的變化數字式凱爾文探測系統的一部分。 凱爾文方法有非常高表面區分 (<0.1 兆伏特，典型地與 10-3of 相應每被吸附物層) 并且是完全地非有害的，甚而對最敏感的被吸附物。 它，最近，享受在物理，生化，工程的廣泛應用和， UHV 表面分析技術。
凱爾文探測設計是 100% UHV 兼容。 它以一完全地被保護的驅動器，巨大地被改進的信號檢測方法和選項計算機控制探測確定為特色。 這些創新，結合與其評定的沒有接觸，非破壞性的本質，在薄膜、吸附動能學、功函地勢、表面光電壓分光學、相變、表面重點和相似的現象的研究中做凱爾文探測系統一個理想的工具。
功能：
- 超高真空 (UHV)或航空作戰。
- 任何凱爾文探測最高的表面區分在市場上的。
- 非有害甚而對最敏感的被吸附物。
- 微軟視窗項目單取使的數據收集軟件啟用信號噪音比的容易的優化。
- 採取的數據數字式振盪器在各種各樣的頻率和高度
- 2 ¾ 「(70mm) conflat 耳輪緣掛接適合實際上所有真空箱。
- 耳輪緣對範例距離可能由用戶指定適合所有真空箱。
- 可用對選項線性譯碼器為範例對探測距離的精密調整。
- 計算機控制的依托潛在減少保護問題。
- 用戶可選的技巧範圍和幾何適應所有範例維數。
- 寬應用範圍例如 UHV 表面分析、在原處程序控制、動能學、照片電壓研究和功函地勢。