CAMECA NanoSIMS 50是一個獨特的離子探針優化SIMS的分析表現在橫向分辨率高。它是基於同軸的光學設計和二次離子萃取離子槍，部門與 multicollection原始磁場質量分析器。
獨特的功能
NanoSIMS 50只能獲得單獨與任何其他已知的儀器或技術，提供同時在幾個關鍵表演：
- 高分析的空間分辨率（50納米），
- 高靈敏度（PPM元素成像），
- 高的質量分辨率（M / DM），
- 並行採集（最多七個群眾），
- 快速採集（DC模式下，脈衝），
- 電氣絕緣沒有問題的樣本分析。
由於最近有所改善，permil零點幾秒的同位素比例的重複性現在可以實現。